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专利名称
专利号
A:人类生活需要
B:作业,运输
C:化学,冶金
D:纺织和造纸
E:固定构造
F:机械工程
G:物理
H:电学
分 类 >>
G:物理
>> 图纹面的照相制版工艺,例如:印刷工艺,半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
名称
专利号
申请者
地址
印模,方法和设备
CN01806988
皇家菲利浦电子有限公司
荷兰艾恩德霍芬
制作微电子器件的工艺
CN01813139
科莱恩金融(BVI)有限公司
英属维尔京群岛托尔托拉
三维立体掩膜
CN200410080758
旺宏电子股份有限公司
台湾省新竹市
光敏性树脂组合物,光敏性元件,防蚀图形及其制法和叠层基板
CN200410074276
日立化成工业株式会社
日本东京都
用对激活光透明的模板在衬底上形成图案的方法及半导体器件
CN200510062999
得克萨斯州大学系统董事会
美国得克萨斯州
放射线敏感性树脂组合物、间隔、及其形成方法以及液晶显示元件
CN200510069112
JSR株式会社
日本东京都
化学放大正性抗蚀剂组合物、卤代酯衍生物及其生产方法
CN200510070438
住友化学株式会社
日本国东京都
化学增幅光阻剂组成物
CN200510071380
台湾永光化学工业股份有限公司
台湾省台北市
着色感光性树脂组合物
CN200510076370
住友化学工业株式会社
日本国大阪府
正性抗蚀剂组合物与抗蚀剂图案形成方法
CN200510070085
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
监控再生光致抗蚀剂的方法、光致抗蚀剂再生工艺及系统
CN200410038301
财团法人工业技术研究院
台湾省新竹县
光刻装置及器件制造方法
CN200510071415
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
光致抗蚀剂层的显影方法
CN200510069445
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
曝光掩模及其生产方法和曝光方法
CN200480000081
索尼株式会社
日本东京都
可光聚合的组合物和由其衍生的胶版印刷板
CN200480000410
克拉通聚合物研究有限公司
荷兰阿姆斯特丹
化学放大型正性光致抗蚀剂组合物及抗蚀图案的形成方法
CN200480000692
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
放射线固化性组合物、其保存方法、固化膜形成方法、图案形成方法、图案使用方法、电子元件及光波导
CN200480000498
日立化成工业株式会社
日本东京都
放射线固化性组合物、其保存方法、固化膜形成方法、图案形成方法、图案使用方法、电子部件及光波导
CN200480000499
日立化成工业株式会社
日本东京都
用带构图的发射器进行发射光刻的方法和装置
CN200410048544
三星电子株式会社;弗吉尼亚技术知识资产公司
韩国京畿道
对0相位区域附加并行线以增强透明电场相移位掩模的方法
CN02824782
先进微装置公司
美国加利福尼亚州
多重曝光的方法
CN200410018456
上海宏力半导体制造有限公司
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
正型感光性的聚酰亚胺的涂料组合物
CN200410042520
财团法人工业技术研究院
台湾新竹县竹东镇中兴路四段195号
液晶显示元件散乱层光阻组成物
CN200410045344
明德国际仓储贸易(上海)有限公司
200131上海市外高桥保税区美盛路168号北楼5层A座
用于浸没式光刻的液体组合物及光刻法
CN200410081983
海力士半导体有限公司
韩国京畿道
浸没式光刻系统
CN200420087627
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
一种用于非预涂式印刷制版的液态感光树脂袋
CN200420090988
茹鹤陵
201105上海市华翔路356号
化学放大型正性光致抗蚀剂组合物以及形成抗蚀剂图案的方法
CN200480000888
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
用于投影光刻机的调焦调平传感器
CN200510025793
上海微电子装备有限公司
201203上海市浦东新区张东路1525号
用以计算空间光调制器的虚拟影像的系统与方法
CN200510068423
ASML控股份有限公司
荷兰费尔德霍芬
光刻装置和器件制造方法
CN200510071348
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
具有动态光瞳填充的剪切干涉仪
CN200510072774
ASML控股股份有限公司
荷兰费尔德霍芬
光刻器件及方法
CN200510081756
奥博杜卡特股份公司
瑞典马尔默
一种高精度灰度掩模制作方法
CN200510011493
中国科学院光电技术研究所
610209四川省成都市双流350信箱
不刻透金属掩模板及其应用
CN200410009117
中国科学院光电技术研究所
610209四川省成都市双流350信箱
图形数据的制作方法、图形验证方法及其应用
CN200510073472
株式会社东芝
日本东京都
抗蚀材料以及图案形成方法
CN200510072000
松下电器产业株式会社
日本大阪府
抗蚀材料以及图案形成方法
CN200510073033
松下电器产业株式会社
日本大阪府
抗蚀材料以及图案形成方法
CN200510073036
松下电器产业株式会社
日本大阪府
感光性组合物
CN200510075857
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
感光性树脂组合物
CN200510075828
东进世美肯株式会社
韩国仁川市
光刻设备和器件制造方法
CN200510071696
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
曝光装置
CN200510075829
株式会社ORC制作所
日本东京
曝光装置、曝光方法以及曝光处理程序
CN200510075830
株式会社ORC制作所
日本东京
光刻装置和器件制造方法
CN200510075891
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
光刻装置和器件制造方法
CN200510081730
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
感光性树脂去除用的稀释剂组合物
CN200510074042
东进世美肯株式会社
韩国仁川市
涂布膜的加热装置和光刻胶的处理装置
CN200510082468
株式会社东芝
日本东京都
图像记录设备、切口形成设备及其使用方法
CN200510067074
大日本网目版制造株式会社
日本京都府京都市
曝光方法及装置
CN02801862
佳能株式会社
日本东京
正性光敏树脂组合物、制备正性光敏树脂组合物的方法及半导体设备
CN01818334
住友电木株式会社
日本东京
用于显微光刻中的抗反射层
CN01819721
纳幕尔杜邦公司
美国特拉华州
蚀刻方法和用于形成蚀刻保护层的组合物
CN02817955
克拉瑞特国际有限公司
瑞士穆滕茨
一种紫外曝光机及其曝光量自动控制方法及其装置
CN200310115973
中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
130031吉林省长春市东南湖大路16号
改进的图形发生器反射镜结构
CN200410035361
微激光系统公司
瑞典泰比
光刻装置和器件制造方法
CN200410043180
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
光刻装置,器件制造方法,以及由此制造的器件
CN200410043381
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
微石印术用光刻胶组合物中的光酸产生剂
CN01818641
纳幕尔杜邦公司
美国特拉华州
着色感光性树脂组合物
CN200410047524
住友化学工业株式会社
日本大阪府
光罩定位装置
CN200410046209
家登精密工业股份有限公司
台湾省台北县
光敏聚合物及含有该聚合物的化学扩增的光刻胶组合物
CN200510074806
株式会社东进世美肯
韩国仁川广域市
正型抗蚀剂组合物以及其中使用的化合物
CN200510074388
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
光罩及使用该光罩制作倾斜反射突块的方法
CN200410027437
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;群创光电股份有限公司
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
曝光装置
CN200510073458
株式会社ORC制作所
日本东京
掩模框架搬运装置以及曝光装置
CN200510076091
株式会社ORC制作所
日本东京
图案形成材料体和使用该材料体的图案形成方法
CN200380101900
三星电子株式会社
韩国京畿道
负型青紫色激光感光性组合物、图像形成材料、图像形成元件和图像形成方法
CN200480001373
三菱化学株式会社
日本东京
化学增强正性光敏树脂组合物
CN200380101785
AZ电子材料(日本)株式会社
日本国东京都
二进制半色调光掩模和微型三维装置及其制作方法
CN200480001226
美商福昌公司
美国康涅狄格
光敏树脂组合物
CN200510075211
住友化学株式会社
日本东京都
光敏糊状组合物,由此制备的PDP电极以及包括该PDP电极的PDP
CN200510081754
三星SDI株式会社
韩国京畿道水原市
薄膜涂布装置及其方法和液体浸泡曝光装置及其方法
CN200510076127
松下电器产业株式会社
日本大阪府
曝光装置及图案形成方法
CN200510074297
松下电器产业株式会社
日本大阪府
半导体器件的制造方法
CN200510075134
株式会社瑞萨科技
日本东京都
辐射系统、光刻设备、装置制造方法及其制造的装置
CN200510076147
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
光刻装置及器件制造方法
CN200510076586
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
形成模具嵌入物和模具的光刻方法
CN200380102296
庄臣及庄臣视力保护公司
美国佛罗里达州
感放射线性树脂组合物
CN200380102382
JSR株式会社
日本东京
电子束曝光方法及电子束曝光装置
CN200380102314
松下电器产业株式会社
日本大阪府
浸润式光刻系统
CN200420088867
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
连续面形掩模移动光刻曝光装置
CN200510011494
中国科学院光电技术研究所
610209四川省成都市双流350信箱
用于形成图案的抗蚀剂及使用其形成图案的方法
CN200510075066
LG.菲利浦LCD株式会社
韩国首尔
用于生产印刷电路板的投影曝光装置和投影曝光方法
CN200510099146
株式会社阿迪泰克工程
日本东京
感光材料冲洗设备及面积测量方法
CN200510097812
大日本网目版制造株式会社
日本京都府
显影处理方法和显影液涂布装置
CN200510099555
东京威力科创股份有限公司
日本东京都
软烘焙基板上的光刻胶的装置和方法
CN200510080185
LG.菲利浦LCD株式会社
韩国首尔
环保型再生PS版油墨及感光胶剥离剂及其配制方法
CN200510086552
石深泉
100074北京市丰台区长辛店辛庄工业区普瑞特公司
显影装置、显影方法及显影液循环方法
CN200480002989
凸版印刷株式会社
日本东京都
光刻设备和生成掩模图案的方法以及该设备制造方法
CN200510109890
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
光敏糊状物组合物
CN200510099882
三星SDI株式会社
韩国京畿道
改进的圆网涂胶机
CN200510044896
郝 强
262500山东省潍坊市青州市青州南路昭德工业园4089号
使用T型光刻胶图案来形成缩小导线图形的方法
CN200410054374
上海宏力半导体制造有限公司
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
导电结构的图案转移方法
CN200410054375
上海宏力半导体制造有限公司
201203上海市浦东新区张江高科技园区郭守敬路818号
曝光装置及图形形成方法
CN200510099184
松下电器产业株式会社
日本大阪府
光刻设备和器件制造方法
CN200510113235
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
基板处理装置和基板定位装置
CN200510092900
东京毅力科创株式会社
日本东京都
精制抗蚀剂用粗树脂的方法
CN200480003485
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
放射线敏感性树脂组合物、其制造法以及使用其的半导体装置的制造方法
CN200480003908
飞索有限责任公司
美国加利福尼亚
掩模板提供系统、掩模板、掩模板透明基片的制造方法
CN200510103988
HOYA株式会社
日本东京都
铬光罩制造方法
CN200510008205
盟图科技股份有限公司
台湾省新竹
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