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专利名称
专利号
A:人类生活需要
B:作业,运输
C:化学,冶金
D:纺织和造纸
E:固定构造
F:机械工程
G:物理
H:电学
分 类 >>
G:物理
>> 图纹面的照相制版工艺,例如:印刷工艺,半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
名称
专利号
申请者
地址
光掩模管理方法及其条形码辨识装置
CN200410092208
力晶半导体股份有限公司
台湾省新竹市
薄膜蚀刻方法以及使用该方法制造液晶显示器件的方法
CN200510080123
LG.菲利浦LCD株式会社
韩国首尔
光刻装置和器件制造方法
CN200510114138
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
使用H2O电浆同时移除光阻和释放电荷的方法
CN200510079870
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路8号
感光性树脂组合物、使用该组合物的感光层及感光性树脂印刷用原版
CN200480009318
东洋纺织株式会社
日本大阪
用于光敏树脂组合物的基底附着力促进剂以及包含该促进剂的光敏树脂组合物
CN200480009527
AZ电子材料(日本)株式会社
日本国东京都
用于多透射率光掩模结构的镶嵌的方法和所得结构
CN200410068071
中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
201203上海市浦东新区张江路18号
半色调掩模、用于制造它的方法及使用它的平板显示器
CN200510115641
LG麦可龙电子公司
韩国庆尚北道
一种带艺术图案的眼镜配件及其表面处理的工艺方法
CN200510100225
深圳市龙岗区龙岗南约荣典金属制品厂
518116广东省深圳市龙岗区南约村烟墩巷6号
基板处理装置及基板处理方法
CN200510120440
大日本网目版制造株式会社
日本京都府
抗蚀剂组合物及成形方法
CN200510119432
国际商业机器公司
美国纽约
电子束曝光过程实时显示系统
CN200410009781
中国科学院电工研究所
100080北京市海淀区中关村北二条6号
光刻装置和器件制造方法
CN200510120144
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
驱动装置及曝光装置
CN200510109154
株式会社尼康
日本东京都
用于印刷构图抗蚀剂层的组合物和方法
CN200480010035
皇家飞利浦电子股份有限公司
荷兰艾恩德霍芬
光敏树脂组合物
CN200480007620
AZ电子材料(日本)株式会社
日本国东京都
用于形成微型图案的模具的树脂组合物及由其制备有机模具的方法
CN200480010034
米纽塔技术株式会社
韩国首尔
多孔质下层膜和用于形成多孔质下层膜的形成下层膜的组合物
CN200480010255
日产化学工业株式会社
日本东京都
屏蔽装置及集成电路制造方法
CN200480010271
因芬尼昂技术股份公司
德国慕尼黑
用于照明系统的光学元件
CN200480010303
卡尔·蔡司SMT股份公司
德国上科亨
一种低成本简易制作光刻掩膜的方法
CN200510019949
武汉大学
430072湖北省武汉市武昌珞珈山
对掩模除垢的方法
CN200510123311
三星SDI株式会社
韩国京畿道
掩模组件以及使用该掩模组件的掩模框组件
CN200510123318
三星SDI株式会社
韩国京畿道
加温闪光两用纳米压印装置
CN200510086826
中国科学院光电技术研究所
610209四川省成都市双流350信箱
用于纳米印刷光刻技术的气动方法和装置
CN200510124657
国际商业机器公司
美国纽约
制造光电电路板的方法
CN200410092802
长兴化学工业股份有限公司
中国台湾
用于湿浸式光刻的方法和设备
CN200510079653
国际商业机器公司
美国纽约阿芒克
自动聚焦系统、自动聚焦方法及使用该系统的曝光设备
CN200510125335
三星电子株式会社
韩国京畿道
湿浸式光刻系统中用于清洗半导体衬底的方法和设备
CN200510083062
国际商业机器公司
美国纽约阿芒克
从基片上除去残留物的组合物及其方法
CN200510089619
气体产品与化学公司
美国宾夕法尼亚州
光刻工艺、压模、该压模的使用以及光学数据存储介质
CN200480010708
皇家飞利浦电子股份有限公司
荷兰艾恩德霍芬
抗蚀剂组合物以及用于除去抗蚀剂的有机溶剂
CN200480010756
AZ电子材料(日本)株式会社
日本国东京都
纳米压印光刻机
CN200420118110
中国科学院微电子研究所
100029北京市朝阳区北土城西路3号
用于沉积的掩模和制造该掩模的方法
CN200510123341
三星SDI株式会社
韩国京畿道
大型防护胶膜组件
CN200510126742
信越化学工业株式会社
日本东京都
固化性树脂组合物、其固化物以及印刷电路板
CN200410095440
太阳油墨制造株式会社
日本东京
氟代环烯烃聚合物及在深紫外类光刻胶中的应用
CN200410091156
北京科华微电子材料有限公司;北京化学试剂研究所
101113北京市通州区工业开发区广通街18号
用于PDP电极的正型光敏糊组合物,由其制备的PDP电极以及包含该PDP电极的PDP
CN200510116580
三星SDI株式会社
韩国京畿道
图形化膜层与障壁的形成方法
CN200410091389
中华映管股份有限公司
台湾省台北市中山北路三段二十二号
使用高阶离轴对准信号确定对准位置的方法
CN200510030577
上海微电子装备有限公司
201203上海市张江高科技园区张东路1525号
浸润式微影方法和仪器
CN200510075334
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路8号
一种多路显影液控制系统
CN200410084516
上海华虹NEC电子有限公司
201206上海市浦东川桥路1188号
等离子室系统及使用该系统灰化光刻胶图案的方法
CN200510080138
PSK有限公司
韩国京畿道
用于高孔径LCD有机绝缘层的负性抗蚀组合物
CN200480011693
韩商.ADMS技术股份有限公司
韩国忠南燕岐郡
投影曝光装置、位置对准装置以及位置对准方法
CN03123736
株式会社阿迪泰克工程
日本东京
抗反射涂层组合物
CN02119355
希普利公司
美国马萨诸塞州
投影光学系统、具备该系统的曝光装置以及曝光方法
CN03123165
尼康株式会社
日本东京都
在曝光对位制造工艺中去除彩色光阻的方法
CN03123482
统宝光电股份有限公司
台湾省新竹科学工业区苗栗县
自增感型超支化聚酰亚胺光敏材料及其制备方法
CN02137747
上海交通大学
200030上海市华山路1954号
具有一个VCSEL光源阵列的用于印版的制图像装置
CN02107176
海德堡印刷机械股份公司
联邦德国海德堡
一种制造亚光刻尺寸通路的方法
CN03122426
惠普公司
美国加利福尼亚州
平版印刷版原版
CN02146060
富士胶片株式会社
日本神奈川县
一种蚀刻方法
CN03104493
友达光电股份有限公司
台湾省新竹市
阵列式集成电路扫描光刻用的工作台运动控制方法及系统
CN02116681
清华大学
100084北京市100084-82信箱
曝光机的近似平行光控制增益结构
CN02205980
北京大祥机械国际有限公司
100015北京市朝阳区机场路草场地166号
正型光敏树脂组合物和使用它的半导体装置
CN02119045
住友电木株式会社
日本东京
基板处理装置
CN02121836
住友精密工业株式会社
日本国兵库县
用于光致抗蚀剂溶解液的消泡剂组合物
CN02118847
三乃可株式会社;旭化成株式会社
日本京都府
曝光方法及曝光装置
CN03138108
三荣技研股份有限公司
日本国兵库县
光刻胶用剥离液和使用该剥离液的光刻胶剥离方法
CN02128219
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
能束曝光方法和曝光装置
CN03136669
株式会社东芝
日本东京都
曝光装置的照度不匀度的测定方法和修正方法
CN02121807
株式会社东芝
日本东京都
光刻设备、装置制造方法和计算机程序
CN200410032532
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
光刻装置,器件制造、性能测量及校准方法和计算机程序
CN03140753
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
平版印刷版前体
CN02127216
富士胶片株式会社
日本神奈川县
掩膜图案的校正方法
CN02141166
联华电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区
阵列式集成电路光刻系统中的精密工作台结构
CN02117420
清华大学
100084北京市100084-82信箱
碱性加工液、加工液的配制方法及其装置以及加工液的供给方法及其装置
CN02130318
株式会社平间理化研究所;长濑产业株式会社;长濑CMS科学技术株式会社;;长濑CMS科学技术株式会社
日本神奈川
图形写入装置和图形写入方法
CN03131462
大日本网目版制造株式会社
日本京都府京都市
用于改善光刻装置中线宽控制的系统和方法
CN03122237
ASML美国公司
美国康涅狄格
烷基化氨基烷基哌嗪表面活性剂及其在光致抗蚀显影剂中的应用
CN00134217
气体产品与化学公司
美国宾夕法尼亚州
用于纹理制作的装置与方法
CN00816989
奥布杜卡特公司
瑞典马尔默
包括氟化铵的光刻胶去除剂组合物
CN00819669
东进瑟弥侃株式会社
韩国仁川市西区
光刻成像滤波装置
CN01108758
中国科学院光电技术研究所
610209四川省成都市双流350信箱
可调式偏振光反应光阻与应用该光阻微影工艺
CN01130268
旺宏电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区力行路16号
减小图案间隙或开口尺寸的方法
CN01131388
旺宏电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区力行路16号
交替式相移光罩及其解除光罩以及接触洞的制造方法
CN01134366
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区
有机电激发光的图素定义层的显影装置
CN01134912
铼宝科技股份有限公司
台湾省新竹县
光罩组合及接触洞的制造方法
CN01136345
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区
新版光罩的验证方法
CN01136691
旺宏电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区力行路16号
反射镜面上的倾斜凸块结构及其制造方法
CN01137577
奇美电子股份有限公司
台湾省台南县
曝光系统及其应用于彩色滤光片的曝光方法
CN01137774
奇美电子股份有限公司
台湾省台南县
微管道的制作方法
CN01138148
中国科学技术大学
230026安徽省合肥市金寨路96号
改进型曝光台主透镜
CN01139110
上海永新彩色显像管股份有限公司
200237上海市朱梅路201号
形成光阻图案的方法
CN01140031
旺宏电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区力行路16号
改善曝光机台的分辨率极限的方法
CN01141571
旺宏电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区力行路16号
转移图形的方法
CN01142997
旺宏电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行路16号
基板曝光装置及方法
CN01143414
威盛电子股份有限公司
台湾省台北县新店市中正路533号8楼
光致抗蚀剂组合物
CN01144640
希普利公司
美国马萨诸塞州
光阻剂组合物
CN01144743
希普利公司
美国马诸塞州
检测光罩机台修正精确度的方法
CN01144757
南亚科技股份有限公司
台湾省桃园县
光源产生装置及接触孔洞的曝光方法
CN01145086
南亚科技股份有限公司
台湾省桃园县
倒锥形抗蚀图案的形成方法
CN01805988
克拉瑞特国际有限公司
瑞士穆滕茨
将图案转移到一个物体上的装置
CN01806518
奥博杜卡特股份公司
瑞典马尔默
感光性树脂组合物、使用该组合物的感光性元件、保护层图案的制造法及印刷电路板的制造法
CN01806651
日立化成工业株式会社
日本东京都
用于从微电路基材除去含钠物质的方法和组合物
CN01806705
马林克罗特·贝克公司
美国密苏里州
用于物体均匀加热的设备
CN01806997
奥博杜卡特股份公司
瑞典马尔默
光固化性·热固化性树脂组合物、其感光性干薄膜及使用其的图型形成方法
CN01807477
学校法人神奈川大学;太阳油墨制造株式会社
日本神奈川县
具有提高的剥离强度的自含成像组件
CN01807609
希卡勒公司
美国俄亥俄
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