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专利名称
专利号
A:人类生活需要
B:作业,运输
C:化学,冶金
D:纺织和造纸
E:固定构造
F:机械工程
G:物理
H:电学
分 类 >>
G:物理
>> 图纹面的照相制版工艺,例如:印刷工艺,半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
名称
专利号
申请者
地址
改进的光刻方法
CN200480040564
伯明翰大学
英国伯明翰
物镜中光学元件的保持器件
CN200480040835
卡尔蔡司SMT股份公司;ASML荷兰有限公司
德国上科亨
用于热显影柔性版印刷套筒的装置和方法
CN200580001941
麦克德米德印刷方案股份有限公司
美国康涅狄格州
印版加热炉的改进及其相关的改进
CN200480035408
海特斯(英国)有限公司
英国西约克郡
超支化聚酯微光学光刻胶的连续生产装置
CN200520067675
湛江师范学院
524048广东省湛江市赤坎寸金路29号湛江师范学院科技处
执行双重曝光光刻的方法、程序产品和设备
CN200610099635
ASML蒙片工具有限公司
荷兰维尔德霍芬
X射线光刻掩模版的制备方法
CN200610030241
上海大学
200444上海市宝山区上大路99号
设计掩模的方法
CN200510089328
联华电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区
光固化性组合物和液晶显示装置用光学隔块以及光固化性着色组合物
CN200610109148
富士胶片电子材料有限公司
日本国东京都
镀制造型物制造用正型感放射线性树脂组合物、转印膜以及镀制造型物的制造方法
CN200610110936
捷时雅株式会社
日本东京
用于印版曝光器中激光器组件的温度调节的装置
CN200610108204
海德堡印刷机械股份公司
德国海德堡
透镜位置控制方法及装置、刻录方法以及刻录装置
CN200610159384
索尼株式会社
日本东京都
显影处理装置以及显影处理方法
CN200610109163
东京毅力科创株式会社
日本东京都
用于检测标线设计数据中的缺陷的计算机实现方法
CN200580003027
克拉-坦科技术股份有限公司
美国加利福尼亚州
光罩/掩模系统的自适应实时控制
CN200580003080
东京毅力科创株式会社
日本东京都
感光性无机膏状组合物、未烘烤片状体、以及等离子显示器前面板的制造方法
CN200580003023
东京应化工业株式会社
日本神奈川
感光性树脂组合物及其固化产物
CN200580003090
日本化药株式会社
日本东京
使用微球体的无加工的数字成像的光聚合物元件
CN200580002030
麦克德米德印刷方案股份有限公司
美国康涅狄格州
正型感光性组合物
CN200580002009
株式会社新克
日本国千叶县
偏振调制光学元件
CN200580002241
卡尔蔡司SMT股份公司
德国上科亨
具有半自动上下版装置用于印刷行业的计算机直接制版机
CN200620022754
北京佳萌锐普科技发展有限公司
102600北京市大兴区工业开发区金辅路甲2号凯驰大厦A101
具有自动分区抽真空和配重装置的制版机
CN200620022755
北京佳萌锐普科技发展有限公司
102600北京市大兴区工业开发区金辅路甲2号凯驰大厦A101
带遮光膜基板、彩色滤光片基板及它们的制造方法以及具备带遮光膜基板的显示装置
CN200610107794
三菱电机株式会社
日本东京都
曝光掩模以及使用其的半导体器件的制造方法
CN200610114822
株式会社半导体能源研究所
日本神奈川县厚木市
曝光掩模
CN200610114953
株式会社半导体能源研究所
日本神奈川县厚木市
于高尔夫球杆头表面刻蚀纹路的制造方法及其纹路结构
CN200510090027
明安国际企业股份有限公司
台湾省高雄市
着色剂分散液及使用它的感光性组合物
CN200610109071
东京应化工业株式会社
日本神奈川
用于形成功能性图案的感光性树脂组合物及功能性图案的形成方法
CN200610111146
东京应化工业株式会社
日本神奈川
均匀涂布基片的方法
CN200610100516
ASML控股公司
荷兰费得霍恩
用于光刻胶的阻挡涂敷组合物及使用该组合物形成光刻胶图形的方法
CN200610101176
三星电子株式会社
韩国京畿道水原市灵通区梅滩洞416番地
电子束图形扫描处理器
CN200510086210
中国科学院电工研究所
100080北京市北京海淀区中关村北二条6号
电子束曝光中套刻工艺的实现方法
CN200610030768
中国科学院上海微系统与信息技术研究所
200050上海市长宁区长宁路865号
曝光装置及曝光方法
CN200610115461
株式会社ORC制作所
日本东京
去除光刻胶的方法以及再生光刻胶的方法
CN200510089655
联华电子股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区
功能化学引发剂
CN200580003803
西巴特殊化学品控股有限公司
瑞士巴塞尔
光刻胶组合物和使用方法
CN200580003633
微量化学公司;日本化药株式会社
美国马萨诸塞
使用可去除硬掩模制造光罩的方法
CN200580003453
应用材料公司
美国加利福尼亚州
微平版印刷投影曝光装置的投影物镜
CN200480041615
卡尔蔡司SMT股份有限公司
德国上科亨
光掩模与校正曝光机台的方法
CN200510091968
力晶半导体股份有限公司
中国台湾新竹市
包括环烯烃共聚物的压印印模
CN200610110802
奥布杜卡特公司
瑞典马尔默
酸发生剂、磺酸、磺酸衍生物及辐射敏感树脂组合物
CN200610126701
JSR株式会社
日本东京
感光性树脂组合物、显示面板用隔垫和显示面板
CN200610141922
JSR株式会社
日本东京都
感光性树脂组合物、显示面板用间隔物及显示面板
CN200610141923
JSR株式会社
日本东京都
正型抗蚀剂组合物及抗蚀图案的形成方法
CN200610151829
东京应化工业株式会社
日本神奈川县
顶部抗反射涂料聚合物、制法及顶部抗反射涂料组合物
CN200510091951
海力士半导体有限公司
韩国京畿道
用以制造半导体元件的最佳化模组的近接校正
CN200610103932
台湾积体电路制造股份有限公司
中国台湾新竹市新竹科学工业园区力行六路8号
浸润式光刻的方法及其处理方法
CN200610109531
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
光刻图形的形成方法
CN200610112157
台湾积体电路制造股份有限公司
台湾省新竹科学工业园区新竹市力行六路八号
个性化隐形眼镜定制设备
CN200610113048
中国科学院光电技术研究所
610209四川省成都市双流350信箱
使用浸没光刻工艺制造半导体器件的方法
CN200610121212
海力士半导体有限公司
韩国京畿道
选择栅格模型以修正工艺配方的方法及其光刻组件
CN200610135759
ASML荷兰有限公司
荷兰费尔德霍芬
液体处理方法和液体处理装置
CN200610111028
东京毅力科创株式会社
日本东京都
剥离剂
CN200610108623
罗门哈斯电子材料有限公司
美国马萨诸塞州
掩模检查装置和方法
CN200580004179
皇家飞利浦电子股份有限公司
荷兰艾恩德霍芬
感光性树脂组合物及其固化物
CN200580004391
日本化药株式会社
日本东京
可固化树脂组合物、滤色器和液晶显示装置
CN200580005028
三菱化学株式会社
日本东京都
光刻装置和校准方法
CN200480041978
ASML荷兰有限公司
荷兰费尔德霍芬
多射束图像增强
CN200580004188
麦克罗尼克激光系统公司
瑞典泰比
光刻装置和测量方法
CN200480041713
ASML荷兰有限公司
荷兰费尔德霍芬
机械双网涂胶机
CN200520126484
张照利
262500山东省潍坊市青州市东方中路588号
晒版机的软片涂粉装置
CN200620109880
谢映明
400010重庆市渝中区中山二路26号8-4
一种铂钛金属薄膜图形化技术
CN200510010975
昆明物理研究所
650223云南省昆明市教场东路31号
压印光刻装置及其方法
CN200510135972
三星电子株式会社
韩国京畿道
印版制造方法
CN200610086460
LG.菲利浦LCD株式会社
韩国首尔
蚀刻带及使用该蚀刻带制造液晶显示器的阵列基板的方法
CN200610091556
LG.菲利浦LCD株式会社
韩国首尔
一种用于纳米材料合成的催化剂的定位方法
CN200610113179
北京大学
100871北京市海淀区颐和园路5号北京大学
感光性浆料
CN200610111371
住友化学株式会社
日本东京都
感光性浆料
CN200610111372
住友化学株式会社
日本东京都
一种投影式光刻机中硅片平台高度控制系统及方法
CN200510029043
上海华虹NEC电子有限公司;上海集成电路研发中心有限公司
201206上海市川桥路1188号718
激光微影装置
CN200510036903
鸿富锦精密工业(深圳)有限公司;鸿海精密工业股份有限公司
518109广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
潜像叠对量测方法
CN200510127112
ASML荷兰有限公司
荷兰维尔德霍芬
光致抗蚀剂残渣、聚合物残渣除去组合物和残渣除去方法
CN200510092787
关东化学株式会社
日本东京都
用于去除透明导电膜及光致抗蚀剂的剥离液组合物
CN200610111383
东进世美肯株式会社
韩国仁川市
抗蚀剂除去方法以及抗蚀剂除去装置
CN200610125701
大日本网目版制造株式会社
日本京都府京都市
电子装置的制造系统
CN200610138995
株式会社东芝
日本东京都
用于可激光雕刻的印刷基底的感光树脂组合物
CN200580006093
旭化成化学株式会社
日本东京都
凸点形成用双层层积膜及凸点形成方法
CN200580005594
捷时雅株式会社
日本东京
投影光学系统
CN200480035968
卡尔蔡司SMT股份有限公司
德国上科亨
信息管理和跟踪系统(IMTS)
CN200580005557
凯文迪什动力学有限公司
英国赫特福德郡
确定成像系统中的图像模糊
CN200580005620
皇家飞利浦电子股份有限公司
荷兰艾恩德霍芬
在光学无掩模光刻中用于曝光图案和模拟掩模的方法
CN200580005833
麦克罗尼克激光系统公司
瑞典泰比
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